Microscopie à balayage double faisceau (FIB / SEM) : un instrument multiple
-
CNRS Formation Entreprises
Domaine de formation :
Sciences
Type de formation
:
Initiale
Lieu
:
Rhône
Date de début
: Non définie
Date de fin
: Non définie
Public concerné par cette formation
:
Référence interne
:
5968&201021
Description de l'offre
:
- Acquérir ou parfaire ses connaissances théoriques et pratiques utiles à l’utilisation d’un FIB / SEM (microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisé)
- Appréhender de manière pratique l'acquisition et les premiers traitements des données de type 3D
- Savoir optimiser les dépôts in situ et les usinages FIB (notamment pour la préparation des lames pour la microscopie électronique en transmission - TEM)
- Appréhender de manière pratique l'acquisition et les premiers traitements des données de type 3D
- Savoir optimiser les dépôts in situ et les usinages FIB (notamment pour la préparation des lames pour la microscopie électronique en transmission - TEM)
Profil du candidat
:
Chercheurs, ingénieurs et techniciens intéressés par les différentes applications du FIB / SEMAfin d’adapter le contenu du stage aux attentes des stagiaires, un questionnaire téléchargeable sur notre site internet devra être complété et renvoyé au moment de l’inscription.
Vous disposez déjà d’un CV crée sur Canaljob ? Il vous suffit d’indiquer votre mail et mot de passe. Note : nous vérifions si vous êtes bien inscrit sur Canaljob ET si vous avez un CV Canaljob actif.
NOUVEAU ! Vous êtes chargé(e) de formation au sein de votre entreprise, et cette offre vous intéresse pour former vos collaborateurs ?
Envoyez une demande d’informations directement auprès de cet établissement en