Microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux
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CNRS Formation Entreprises
Domaine de formation :
Sciences
Type de formation
:
Initiale
Lieu
:
Bas-Rhin
Date de début
: Non définie
Date de fin
: Non définie
Public concerné par cette formation
:
Référence interne
:
5970&201021
Description de l'offre
:
- Connaître les principes de la microscopie électronique à balayage en science des matériaux
- Comprendre la formation de l'image en MEB et les paramétrages de base
- Savoir choisir les détecteurs adaptés pour former une image
- Savoir préparer et observer des matériaux simples
- Savoir interpréter les images en fonction du type d'échantillon et des paramètres d'observation retenus
- Savoir compléter l'interprétation des images en utilisant la microanalyse X
- Comprendre la formation de l'image en MEB et les paramétrages de base
- Savoir choisir les détecteurs adaptés pour former une image
- Savoir préparer et observer des matériaux simples
- Savoir interpréter les images en fonction du type d'échantillon et des paramètres d'observation retenus
- Savoir compléter l'interprétation des images en utilisant la microanalyse X
Profil du candidat
:
Chercheurs, ingénieurs et techniciens amenés à utiliser le MEB ou interpréter des images de MEB pour la science des matériauxAfin d’adapter le contenu du stage aux attentes des stagiaires, un questionnaire téléchargeable sur notre site internet devra être complété et renvoyé au moment de l’inscription.
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